電子顯微鏡專用 - 校正片

電子顯微鏡專用-校正片

Pelcotec™ CDMS 校正片是在超平坦矽基板鍍上金與鉻所製成，5µm以上刻度尺是在矽表面鍍上50nm Cr ; 2µm-100nm 刻度尺是在矽表面鍍上50nm Au與 20nm Cr ; Au、Cr鍍在矽基板上能提供明顯的對比度且具有導電性，應用在電子顯微鏡上能提供出色的效果。

*Pelcotec™ CDMS 校正片需保存在真空環境中

 

• Pelcote CDMS-1T : 放大倍率10x-20,000x，可觀察到2.0mm-1um的特徵，具有可追溯性。
• Pelcotec™ CDMS -0.1T : 放大倍率可達10-200,000x，可觀察到2.0mm-100nm的特徵，具有可追溯性；適用於所有SEM和大多數FESEM應用上。
• Pelcotec™ CDMS-1C : 放大倍率範圍為10x-20,000x，可觀察到2.0mm-1µm，經NIST標準認證。
• Pelcotec™ CDMS-0.1C : 放大倍率高達10-200,000x，可觀察到2.0mm-100nm，經NIST標準認證。適用於所有SEM和大多數FESEM應用上。