官網尋找

MENU

• 公司簡介
  • 關於我們
  • 關係企業
  • 性騷擾防治
• 品牌介紹
  • BUEHLER 金相樣品前處理設備及耗材
  • Wilson Hardness 硬度計
  • Leica 各式顯微鏡及分析軟體
  • Ted Pella 電顯試片前處理耗材及相關儀器
  • Kleindiek SEM 用奈米探針平台奈米微調儀
  • FTA 接觸角量測儀 (Contact Angle)
  • Jelight 紫外光加臭氧清洗機 (UVO Cleaner)
  • Thermo Fisher Scientific｜Avizo 三維影像分析軟體
• 產品介紹
  • Buehler 金相樣品前處理設備及金相耗材
    • 切割
    • 鑲埋
    • 研磨拋光
    • 切割耗材
    • 鑲埋耗材
    • 研磨拋光耗材
  • Wilson 硬度計
  • Leica 金相顯微鏡 / 工業顯微鏡
    • 正立金相顯微鏡
    • 立體顯微鏡
    • 倒立式金相顯微鏡
    • 數位工具量測顯微鏡
    • 共軛焦及干涉差,3D表面量測系統
    • 量測分析軟體
  • Leica 離子束剖面研磨 (CP)
  • UC Enuity 超薄切片機
  • DiATOME 鑽石刀
  • Kleindiek Nanotechnik 奈米探針/奈米微調儀/微型加熱冷卻台/四軸平台 ACT
  • 接觸角量測儀 / 紫外光加臭氧清洗機
  • Ted Pella 電顯試片前處理耗材及相關儀器
    • easiGlow 91000 輝光放電機 (親水儀)
    • Ted Pella 鍍金機/鍍碳機
    • 電子顯微鏡耗材
    • Tripod Polisher 三腳研磨治具
  • Thermo Fisher Scientific｜Avizo 三維影像分析軟體
• 應用領域
  • 電子微切片
  • 金屬,加工製造,陶瓷及複合材料
  • 航空航太
  • 學術研究及材料研發
• 製備技巧課程
  • 課程介紹
  • 金屬業訓練課程報名表
  • 電子業訓練課程報名表
• 最新消息
  • 最新動態
• 聯絡我們
• 關係企業