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微觀結構成分分析顯微鏡 DM6 M LIBS

節省 90% 的時間:目視和化學材料檢驗二合一
將目視檢驗和定性化學檢驗組合在一個工作步驟中,與使用傳統 SEM / EDS 檢驗相比,測定微觀結構成分的時間可節省 90%。集成雷射誘導擊穿光譜功能可在一秒鐘內針對您在顯微鏡中看到的材料結構提供準確的化學元素圖譜。
 
  • 用於目視和化學分析的二合一系統
  • 1 秒即可獲得化學元素圖譜
  • 無需樣品製備

實現快速精確材料分析的二合一系統
 

DM6 M LIBS 的集成雷射誘導擊穿光譜功能可在一秒內提供在顯微鏡圖像所觀察微觀結構的化學成份。
識別感興趣的微觀結構成分,隨後只需單擊一下,即可觸發 LIBS 分析。

  • 與典型的電鏡方法*相比,節省 90% 的時間,而且以可靠的目視和化學檢驗材料尋席為基礎,快速做出自信的決策。
  • 只需一次單擊,即可準確檢查通過目鏡或攝像頭觀察的物質,從而快速簡單的識別和解釋。操作員不需要額外的專業知識。
 
無需 SEM 樣品製備

為什麼使用 DM6 M LIBS 解決方案進行材料分析能節省 90% 的時間?因為這種解決方案:

  • 無需樣品製備和轉移;
  • 無需系統調節;且
  • 無需重新定位感興趣區域 (ROI)。
 
減少工作流程

將工作流程精簡至只有一個步驟,以結果為重點

 
零組件清潔度分析

DM6 M LIBS 二合一系統與 Cleanliness Expert 分析軟體相結合,讓您僅使用一台儀器和一個工作流程即可對過濾器上的樣品進行目視和化學檢驗,這樣可以更輕鬆地找到污染源。

 
微觀結構成分的評估
  • DM6 M LIBS 二合一解決方案可助您執行金相的結構和元素/化學分析,例如礦石、合金、陶瓷等。
  • 無需進行樣品製備,也無需在 2 個或更多設備之間進行轉移。整個分析工作流程全部在一台儀器上完成。
  • 最大程度減少佔用人力資源的樣品製備和成本高昂的 SEM/EDS 分析,從而節省時間和資金。
 
材料的深度剖面圖和層次分析
 

LIBS 的消融原理可被運用於材料的微型打孔。微型打孔可應用於諸如:

  • 深度剖面
  • 層次分析
  • 表面清潔。

在測定一種材料的成分是否隨著深入該材料其中的深度而改變時,深度剖面分析非常有用。
層次分析可用於查找一種材料中每一層的成分。比如多層鍍膜或噴漆的金屬,都屬於層狀材料

 
LIBS:您的化學分析研究利器

DM6 M LIBS 解決方案運用雷射誘導擊穿光譜 (LIBS) 使定性化學分析成為可能。
單擊即可觸發分析,雷射將穿透樣品上的瞄準點。一個等離子體將會產生,然後分解。產生的特徵光譜顯示材料中的元素分佈圖譜。

軟件將圖譜與已知的元素和化合物數據資料進行對比,從而確定微觀結構的成分。數據資料可以隨著用戶獲得的具體材料結果得到擴充。

 
Leica DM6 LIBS 顯微鏡本體功能配置
  • 2-齒輪高精度電動調焦驅動器
  • 6孔或7孔電動物鏡鼻輪
  • 手動或電動掃描平台
  • 觸控螢幕控制
  • 照明管理系統
  • 對比度管理器
  • LED 照明裝置可實現所有對比度模式
  • 對比模式:明場、暗場、微分乾涉差、偏振光、螢光
  • Leica Application Suite X (LAS X) 軟件
  • 為了更好的做化學分析,您可以使用搭載了LIBS的DM6 M 顯微鏡,得到更快速、精準的分析結果。

規格
機型 DM6 M LIBS DM6 M LIBS
系統  motorized電動載台 scanning掃描載台
適用範圍 需要檢查較小的樣品或個別感興趣的區域
特定區域的樣品分析
使用者選擇分析點位
大區域範圍樣品且需要拼接
需要分析的點位分布在整個樣品上
使用圖像分析軟體選擇分析點位
拍攝分析需求 進行目視檢查時進行化學分析
目測或圖像分析結合化學分析
圖像分析後進行化學分析
自動圖像分析,然後對感興趣顆粒或夾雜物進行化學分析
樣品 個別樣品檢查
缺陷分析
清淨度濾膜上的顆粒計量
鋼鐵之非金屬夾雜物分析